D算法，是拓扑结构测试中最经典的方法，也是最早实现自动化的测试生成算法之一。是由Roth在1966年提出的，此后又有许多人在此基础上作了改进 ,从而使 D 算法达到了实用的阶段。D 算法适用于计算机编程操作 ,如用手工计算则显得繁锁。
D算法介绍
D算法，是拓扑结构测试中最经典的方法，也是最早实现自动化的测试生成算法之一。是由Roth在1966年提出的，此后又有许多人在此基础上作了改进 ,从而使 D 算法达到了实用的阶段。D 算法适用于计算机编程操作 ,如用手工计算则显得繁锁。
D算法简介
1966年Roth提出的D算法，可以认为是拓扑结构测试中最经典的方法，也是最早实现自动化的测试生成算法之一。它是完备的测试算法，它可以检测非冗余电路中所有可以检测的故障。虽然它是在20世纪60年代提出的，而且被改正过多次，但是，许多新的测试方法都是在它的基础上发展起来的。而且一直沿用至今。
D算法在具体应用时，计算工作量很大，尤其是对大型的组合电路计算时间很长,原因是在作敏化通路的选择时其随意性太大，特别是在考虑多通路敏化时各种组合的情况太多，然而真正“有效”的选择往往较少，做了大量的返回操作。
改进的算法，如PODEM和FAN算法，有效地减小了返回次数，提高了效率。
D算法基本思路
D 算法的基本思路是 :为了测试故障 ,必须使故障点的正常值与故障值形成差异 ,并将它传送至输出端。在 D 算法中引入 D(D) 表示正常值与故障值的差异 ：
D = (0 ,1) ,表示故障点的正常值为 0 ,故障值为 1。
D = (1 ,0) ,表示故障点的正常值为 1 ,故障值为 0。
