三探针法(英语名:three-probe measurement)是2011年公布的材料科学技术名词。以上内容由全国科学技术名词审定委员会审定公布
以直线排列的三支金属探针与半导体外延样品表面接触,测量反向电流?-?电压特征,从击穿电压计算掺杂浓度再换算电阻率值的电学测量技术。
《材料科学技术名词》。